Quantexa ได้รับการจัดอันดับเป็นผู้นำหมวดหมู่ในรายงานโซลูชัน AML Transaction Monitoring และ KYC ปี 2025 ของ Chartis Research Leave a reply ผู้บุกเบิกด้าน Decision Intelligence ได้รับการยอมรับในความเป็นผู้นำด้าน AI ที่อธิบายได้ การเฝ้าติดตามพฤติกรรมแบบเรียลไทม์ และการวิเคราะห์ความเสี่ยงเชิงบริบท ลอนดอน, Nov. 20, 2025 (GLOBE NEWSWIRE) — Quantexa ผู้นำระดับโลกด้าน Decision Intelligence ได้รับการยกย่องให้เป็นผู้นำหมวดหมู่ใน Quadrant ของ Chartis RiskTech สำหรับโซลูชันตรวจจับการฟอกเงิน (AML) แบบตรวจสอบธุรกรรม และใน RiskTech Quadrant สำหรับโซลูชัน KYC ปี 2025 Chartis Research เป็นผู้ให้บริการวิเคราะห์อิสระชั้นนำด้านเทคโนโลยีความเสี่ยงและการปฏิบัติตามกฎระเบียบ รายงานของ Chartis ถือเป็นมาตรฐานอ้างอิงที่ได้รับความไว้วางใจจากสถาบันการเงินในการประเมินโซลูชันและผู้นำตลาด การได้รับการยอมรับทั้งสองด้านจาก Chartis เน้นย้ำถึงอิทธิพลที่เพิ่มขึ้นของ Quantexa ในการช่วยให้สถาบันการเงินที่ใหญ่ที่สุดในโลกลดความเสี่ยง ต่อสู้กับอาชญากรรมทางการเงิน ปรับเปลี่ยนระบบการปฏิบัติตามกฎระเบียบ และขยายการใช้งาน AI อย่างรับผิดชอบ การได้รับการยอมรับของ Quantexa ในฐานะผู้นำหมวดหมู่สะท้อนให้เห็นถึงความสอดคล้องกับแนวโน้มสำคัญของตลาด AML ที่ระบุโดย Chartis ซึ่งรวมถึง AI ที่อธิบายได้ การเฝ้าติดตามพฤติกรรมแบบเรียลไทม์ และการวิเคราะห์ความเสี่ยงเชิงบริบท Quantexa ช่วยให้ธนาคารสามารถเชื่อมโยงและทำให้ข้อมูลภายในและภายนอกมีบริบทในระดับขนาดใหญ่ จึงช่วยลดผลลวงบวก เสริมความแข็งแกร่งของการสืบสวน และเร่งกระบวนการยืนยันตัวตนของลูกค้า ทั้งหมดนี้ยังสอดคล้องกับความคาดหวังด้านกฎระเบียบที่เพิ่มขึ้นเกี่ยวกับความโปร่งใสและการกำกับดูแลแบบจำลอง “การจัดอันดับของ Quantexa ในฐานะผู้นำหมวดหมู่สะท้อนถึงระเบียบวิธีเชิงข้อมูลที่แข็งแกร่งสำหรับการระบุรูปแบบในการตรวจสอบธุรกรรม โดยอาศัยความสามารถในการผสานข้อมูลที่เติบโตเต็มที่ ผสานกับการวิเคราะห์ขั้นสูงและความฉลาดเชิงบริบทของบริษัท” Sean O’Malley ผู้อำนวยการฝ่ายวิจัยด้านอาชญากรรมทางการเงินและการควบคุมของ Chartis Research กล่าว “Quantexa ยังโดดเด่นในปัจจัยสำคัญอื่น ๆ ที่มีความสำคัญเพิ่มขึ้นในพื้นที่นี้ ได้แก่ คุณภาพและการตรวจสอบความถูกต้องของโมเดล ความเร็วและประสิทธิภาพในการประมวลผล การผสานรวมข้อมูลและระบบ และการสร้างแบบจำลองเชิงวิเคราะห์”

Nearfield Instruments ลงนามโครงการพัฒนาหลายปีเพื่อยกระดับการตรวจวัดในอุตสาหกรรมเซมิคอนดักเตอร์ Leave a reply รอตเทอร์ดัม เนเธอร์แลนด์, Nov. 19, 2025 (GLOBE NEWSWIRE) — Nearfield Instruments ผู้นำด้านโซลูชันการควบคุมกระบวนการแบบ 3 มิติ ไม่ทำลายชิ้นงาน และตรวจวัดได้แบบอินไลน์ โดยอาศัยเทคโนโลยีสแกนนิงโพรบ ประกาศเปิดตัวโครงการพัฒนากลยุทธ์ร่วมกันเพื่อเร่งสร้างนวัตกรรมในงานเมโทรโลยีสำหรับอุตสาหกรรมเซมิคอนดักเตอร์ ในฐานะส่วนหนึ่งของความร่วมมือหลายปีนี้ Nearfield Instruments จะนำระบบเรือธงของบริษัท QUADRA ไปติดตั้ง ณ ศูนย์วิจัยและพัฒนาขั้นสูงของ Imec ในเมืองลูเวน ทั้งสององค์กรจะร่วมกันพัฒนาโซลูชันเมโทรโลยีรุ่นใหม่เพื่อตอบโจทย์ความท้าทายสำคัญต่าง ๆ ในห่วงโซ่การผลิตเซมิคอนดักเตอร์ รวมถึง: เมโทรโลยีสำหรับ High-NA EUV Lithography การพัฒนาและการวิเคราะห์เมโทรโลยีแบบ 3 มิติของวัสดุเรซิสต์สำหรับ High-NA EUV โดยใช้โหมดการถ่ายภาพสัดส่วนสูง (High-Aspect-Ratio: HAR) ที่เป็นเอกสิทธิ์ของ Nearfield (FFTP) เพื่อช่วยเพิ่มประสิทธิภาพของเครื่องสแกนเนอร์ การวัดลักษณะเฉพาะแบบ 3 มิติของอุปกรณ์ลอจิกขั้นสูง ช่วยให้สามารถวิเคราะห์คุณลักษณะของโครงสร้างที่มีสัดส่วนสูงได้อย่างแม่นยำ เช่น ทรานซิสเตอร์แบบ Complementary Field-Effect Transistors (CFETs) ผ่านโหมดการถ่ายภาพด้านข้างที่เป็นเอกสิทธิ์ของระบบ QUADRA เมโทรโลยีสำหรับการบูรณาการแบบหลากหลายแพลตฟอร์มในรูปแบบ 3 มิติ ยกระดับความสามารถด้านเมโทรโลยีและการตรวจสอบในงานบูรณาการ 3 มิติและการเชื่อมแบบไฮบริด (เวเฟอร์ต่อเวเฟอร์, ไดต่อเวเฟอร์) การประยุกต์ใช้งานประกอบด้วย การตรวจสอบแผ่นสัมผัสทองแดงและความขรุขระของไดอิเล็กทริก การกัดกร่อน การยุบตัว การถ่ายภาพทั้งแผ่นเวเฟอร์ และขอบเวเฟอร์ล้น ซึ่งเสริมประสิทธิภาพด้วยเทคโนโลยี Ultra-Large Scanning Area (ULSA) ของ Nearfield Instruments ที่ผสานการสแกนพื้นที่ขนาดใหญ่เข้ากับความละเอียดระดับนาโนเมตร “ความร่วมมือกับ Imec ช่วยให้เราก้าวข้ามขีดจำกัดของสิ่งที่เป็นไปได้ในการควบคุมกระบวนการผลิตเซมิคอนดักเตอร์” ดร. Hamed Sadeghian ซีอีโอของ Nearfield Instruments กล่าว “เรากำลังร่วมกันแก้ไขความท้าทายด้านเมโทรโลยีครั้งสำคัญ ตั้งแต่การตรวจวัด